Крупный ортогональный интерферометрический контрастный золотофазный микроскоп XJL - 302DIC предназначен для отражения дифференциальной интерферометрической контрастности поверхностных форм непрозрачных объектов, а также для перспективного микроскопического наблюдения прозрачных объектов. Использование превосходной концепции проектирования бесконечно дальней оптической системы и модульной функции может облегчить обновление системы, реализацию поляризационного наблюдения, дифференциального интерферометрического контрастного наблюдения и других функций, компактного и стабильного высокожесткого субъекта, полностью отражающего требования к антивибрации микроопераций. Идеальный дизайн, отвечающий требованиям эргономики, делает работу более удобной и удобной, а пространство более широким. Микроскопические наблюдения, применимые к металлографическим тканям и поверхностным морфологиям, являются идеальными инструментами для металлологических, минералогических и точных инженерных исследований.