Технология Helios 5 DualBeam обладает высокой производительностью изображения и анализа в линейке продуктов Helios 5. Он спроектирован таким образом, чтобы удовлетворить потребности исследователей и инженеров в широком спектре использования FIB - SEM, даже в сложных образцах.

Helios 5 DualBeam переопределяет стандарты визуализации с высоким разрешением: контрастность материалов, быстрая, простая и точная подготовка высококачественных образцов для S / TEM - изображений и томографии с атомным зондом (APT), а также субповерхностные и 3D - представления. Опираясь на проверенную производительность серии Helios DualBeam, Helios 5 DualBeam оптимизирован, чтобы убедиться, что система работает в режиме ручного или автоматического рабочего процесса.

Технические параметры полупроводниковой промышленности:

Технические параметры отрасли материаловедения:

Легче использовать:

Helios 5 - простая в использовании система DualBeam для всех опытных пользователей. Обучение операторов может быть сокращено с нескольких месяцев до нескольких дней, а его системный дизайн помогает всем операторам достигать последовательных и повторяющихся результатов в различных приложениях.

Повышение производительности:

Продвинутые возможности автоматизации, надежность и стабильность программного обеспечения Helios 5 и AutoTEM 5 позволяют работать без присмотра или даже в ночное время, что значительно увеличивает поток подготовки образцов.

Улучшение сроков и результатов:

Helios 5 DualBeam представляет технологию FLASH (флэш - модуляция) для тонкой настройки изображений. С технологией FLASH вам просто нужно выполнить простую операцию мыши в пользовательском интерфейсе, и система может « в реальном времени» проводить пассивацию, среднюю линзу и фокусировку изображений. Автоматическая настройка может значительно улучшить поток, качество данных и упростить сбор высококачественных изображений. В среднем технология FLASH позволяет сократить время, необходимое для получения оптимизированных изображений, в 10 раз.